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MEGREZ-α雙源單波長激發-能量色散X射線熒光光譜儀是安科慧生十年技術積累的結晶，依靠全聚焦型雙曲面彎晶核心技術，采用兩個X射線激發源，將能量色散X射線熒光光譜儀元素分析范圍擴展至C、N、O、F，且有無可比擬的靈敏度和穩定性，結合一如既往對金屬元素優異的低檢出限性能，從而成為元素分析性能優異的新型X射線熒光光譜儀。
全息基本參數法（Holospec FP 2.0®）對MEGREZ-α無縫支持，提升元素定量準確度和適應性，客戶可以輕松自如完成各類樣品的方法開發，為XRF帶來前所未有的應用前景。
• 核心技術：集成X射線熒光光譜儀前沿技術
1) 全聚焦型雙曲面彎晶單色化聚焦激發技術
● 極大消除X射線管出射譜中散射線背景
● 聚焦激發增加探測器接收元素熒光信號強度
● 偏振消光光路進一步降低入射射線散射線背景
2) 雙X射線管實現全元素（C-U）高靈敏分析
● 雙X射線管與雙曲面彎晶組成多個單色化器，實現全元素分析范圍
● 增強對超輕元素（C、N、O、F）激發和接收性能
3) 軟件核心技術：全息基本參數法（Holospec FP 2.0）
● 理論計算解決XRF基體效應、元素間吸收-增強效應、探測器效應等
● 實現元素無標定量分析
● 提升元素定量精度
● 擴展樣品適應范圍
集成X射線熒光領域核心技術的雙源單波長激發-能量色散X射線熒光光譜儀MEGREZ-α榮獲“2022年朱良漪分析儀器創新成果獎”和“2022年度科學儀器行業優秀新品獎”！
- 雙X射線管多單色化器
創新采用Ag靶與W靶雙X射線管設計，分別與全聚焦型雙曲面彎晶組成單色化聚焦入射光路，分段高效激發全元素（C-U）能量范圍。
下照式光路設計
入射射線自上而下照射樣品表面，避免樣品表面灰塵污染光路系統或探測器，更可直接分析液體樣品。
樣品自旋裝置
樣品圍繞中心軸旋轉，入射射線掃描樣品較大面積，減少樣品不均勻性造成的分析誤差。
機器人進樣系統
三軸機器人進樣系統，定位精度±0.1mm，可批量完成90個以上樣品分析。
自充氣光路吹掃系統
氫氣氣路吹掃系統使系統快速達到穩定狀態，無需復雜的維護。
- 指標參數說明原理雙源單波長激發-能量色散X射線熒光光譜儀采用雙X射線管和全聚焦型雙曲面彎晶分段高效激發不同能量段元素測試范圍
元素周期表C6-U92之間的元素 元素檢出限 超輕元素（C-F）：O - LOD＜0.2%，F - LOD＜0.05%；
重金屬元素（Co-U）：Pb/As - LOD＜0.2mg/kg，Cd-LOD＜0.1mg/kg；
（C、H、O、N為主量元素的輕基體樣品，元素分析時間以300秒計）重復性超輕元素：F含量1%，RSD＜5%；
輕元素：S含量50mg/kg，RSD＜5%；
重金屬元素：Pb/As/Cd含量1mg/kg，RSD＜10%；
（輕基體樣品，元素分析時間600秒，7次分析重復性結果）無標定量能力主量元素1%-90%，相對誤差±10%；
雜質元素0.01%-1%，相對誤差±15%；
微量元素0.0001%-0.01%，相對誤差±20%；全息基本參數法與先進的數學模型相結合；
采用標準物質建立校正曲線，定量精度進一步提升分析時間30~900秒依據樣品類型和元素分析范圍和精度，軟件設定自動進樣單元＞90位機器人自動進樣裝置；
位置重復定位精度＜0.1mm；環境要求溫度23℃±5℃
濕度＜85%Rh
電源220V±15V，1000W光源系統 全聚焦型雙曲面彎晶技術，單色化聚焦入射樣品； 探測器 能量分辨率≤130eV@Mn Kα，最大計數率≥1100kcps；
可選與可升級部件表
部件 性能 說明 輕元素單色化激發與聚焦裝置 高效激發輕元素（Na-Cl）和金屬元素范圍（K-Zn） 相應的X射線管與單色化器 重金屬元素單色化激發與聚焦裝置 高效激發金屬元素（K-Zn）和重金屬元素（Ga-U）范圍 相應的X射線管與單色化器 超輕元素增強型SDD探測器 增強超輕元素（C-F）元素熒光透過率 更換為增強超輕元素型SDD探測器 自動進樣單元 90位機器人進樣單元
具體配置與性能指標，請咨詢安科慧生工作人員！
環境物質（土壤、固廢、空氣濾膜、水質）無機元素含量分析；礦產冶煉從骨料、精礦到金屬、合金元素含量分析；
鋰電池（前驅體、正極、負極、涂布層）材料元素（包括Li）含量分析；
食品、農產品、中藥中重金屬含量分析；
各類鍍層膜厚元素成分與厚度分析；
科學研究；
適用于液體、固體、粉末樣品類型；
具體適用于產品分析樣品與元素含量，請咨詢安科慧生工作人員！
雙源單波長激發-能量色散X射線熒光光譜儀雙源單波長激發-能量色散X射線熒光光譜儀是安科慧生十年技術積累的結晶，依靠全聚焦型雙曲面彎晶核心技術，采用兩個X射線激發源，將能量色散X射線熒光光譜儀元素分析范圍擴展至C、N、O、F，且有無可比擬的靈敏度和穩定性，結合一如既往對金屬元素優異的低檢出限性能，從而成為元素分析性能優異的新型X射線熒光光譜儀。
MEGREZ-α產品技術白皮書
通過全聚焦型雙曲面彎晶技術實現 X 射線光管出射譜單色化聚焦激發樣品，降低 X 射線管散射線背景 干擾，大幅降低元素檢出限;采用高計數率與分辨率硅漂移探測器采集熒光信號，達到對樣品中痕量元素 檢測能力;完整的基本參數法，提升樣品元素定量精度和樣品適應性，支持開發各類樣品應用方法;采用 雙 X 射線管實現不同能量段的單色化聚焦激發，實現更寬元素范圍(C-U)定量分析。
