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單波長(zhǎng)激發(fā)-能量色散X射線(xiàn)熒光光譜法測(cè)定含鐵物料中多種微量及痕量有害元素


摘 要
        采用全聚焦型雙曲面彎晶結(jié)構(gòu)所實(shí)現(xiàn)的單波長(zhǎng)激發(fā)能量色散X射線(xiàn)熒光光譜法,能有效解決X射線(xiàn)管出射譜中韌致輻射所產(chǎn)生的背景信號(hào),大幅提升了元素信噪比,獲得了較佳的元素特征X射線(xiàn)熒光信號(hào)峰背比,降低了檢出限。可定量分析含鐵物料中多種微量及痕量有害元素。稱(chēng)取適量鐵礦樣品制備成粉末壓片,通過(guò)對(duì)單波長(zhǎng)激發(fā)性能進(jìn)行優(yōu)化,以基本參數(shù)法對(duì)基體效應(yīng)進(jìn)行校正,采用無(wú)標(biāo)樣全譜擬合算法對(duì)試樣進(jìn)行分析,砷、汞、鉛、鉻、鎘元素的線(xiàn)性相關(guān)系數(shù)均不小于0.999,其檢出限在0.0002%~0.003%,各元素精密度RSD在3.2%~9.0%。用不同方法進(jìn)行正確度驗(yàn)證,除接近方法檢測(cè)下限的As及Pb檢測(cè)結(jié)果與對(duì)比數(shù)據(jù)偏差較大之外,其他元素與比對(duì)方法的測(cè)定結(jié)果均吻合。經(jīng)實(shí)驗(yàn)表明,采用雙曲面彎晶技術(shù)的單波長(zhǎng)激發(fā)能量色散X射線(xiàn)熒光光譜法定量分析含鐵物料中低含量有害元素,正確度高、檢出限低,明顯優(yōu)于傳統(tǒng)能量色散X射線(xiàn)熒光光譜法。

概 述
       含鐵物料中有害元素分析方法主要有電感耦合等離子體質(zhì)譜法、原子吸收光譜法、原子熒光光譜法等。然而該些方法樣品預(yù)處理過(guò)程比較繁瑣,耗時(shí)長(zhǎng)且不能實(shí)現(xiàn)大量樣本的現(xiàn)場(chǎng)快速篩査。熔融玻璃片-X射線(xiàn)熒光光譜法可快速分析樣品中多種元素[1-2],但因樣品中有害元素砷、汞、鉛、鉻、鎘為微量或痕量且存在玻璃熔片的稀釋比過(guò)高問(wèn)題,無(wú)法利用熔融玻璃片法開(kāi)展微量或痕量的砷、汞、鉛、鎘元素的定量分析。因此需要找到一種效率高、速度快且檢出限低的的現(xiàn)場(chǎng)快速篩查方法對(duì)含鐵物料中的有害元素進(jìn)行快速檢測(cè)。

       單波長(zhǎng)激發(fā)-能量色散X射線(xiàn)熒光光譜儀是目前國(guó)內(nèi)新興高通量分析設(shè)備之一,除具有分析速度快、無(wú)損檢測(cè)、測(cè)量范圍廣、光譜穩(wěn)定可靠等優(yōu)點(diǎn),較傳統(tǒng)能量色散X射線(xiàn)熒光儀,還具有激發(fā)功率小、檢出限低、便攜小巧的優(yōu)點(diǎn),能夠適應(yīng)現(xiàn)場(chǎng)快速有害元素篩查工作。傳統(tǒng)能量色散 X 射線(xiàn)熒光分析儀因X 射線(xiàn)光管功率低,產(chǎn)生的 X 射線(xiàn)強(qiáng)度較低,其微量重元素信號(hào)經(jīng)常淹沒(méi)在高連續(xù)譜背景當(dāng)中,因此檢測(cè)有害元素方法檢出限較高。查閱相關(guān)文獻(xiàn),有能量色散X射線(xiàn)熒光光譜法測(cè)定礦石中有害元素的相關(guān)報(bào)道[3-4],但方法檢出限或測(cè)定范圍均較高,而含鐵物料中多種有害元素為微量或痕量,使用該類(lèi)方法無(wú)法適用于大多數(shù)含量更低的含鐵物料中有害元素的檢測(cè),且除此以外,并未見(jiàn)有關(guān)汞元素檢測(cè)的相關(guān)報(bào)道。單波長(zhǎng)激發(fā)-能量色散X射線(xiàn)熒光光譜儀[5],添加了能夠?qū)射線(xiàn)進(jìn)行Bragg衍射單色化并聚焦到直徑數(shù)十到數(shù)百微米的聚焦面的全聚焦型雙曲面彎晶結(jié)構(gòu),通過(guò)內(nèi)置單色化光學(xué)器件將X射線(xiàn)管出射譜的某單一波長(zhǎng)衍射取出并照射樣品,由于消除X射線(xiàn)管出射譜中韌致輻射所產(chǎn)生的背景信號(hào),從而大幅提升元素信噪比,獲得較佳的元素特征X射線(xiàn)熒光信號(hào)峰背比,極低的檢出限,可以對(duì)微量或痕量有害元素實(shí)現(xiàn)高性能分析。經(jīng)查閱相關(guān)文獻(xiàn)[6-8],未見(jiàn)有關(guān)利用單波長(zhǎng)激發(fā)的能量色散X射線(xiàn)熒光光譜法測(cè)定含鐵物料中砷、汞、鉛、鉻、鎘有害元素的報(bào)道。

       本工作創(chuàng)新性的利用單波長(zhǎng)聚焦激發(fā),降低了含鐵物料中砷、汞、鉛、鉻、鎘有害元素測(cè)定的檢出限,最終提出了單波長(zhǎng)激發(fā)-能量色散X射線(xiàn)熒光光譜法定量檢測(cè)含鐵物料中多種微量及痕量有害元素的分析方法。




1.實(shí)驗(yàn)部分
1.1 儀器與試劑
         PHECDA-PRO型單波長(zhǎng)激發(fā)能量色散X射線(xiàn)熒光光譜儀(北京安科慧生),NL-60S型全自動(dòng)液壓壓片機(jī)(天津諾雷信達(dá)),硼酸(分析純)。

1.2 儀器工作條件
        按照待分析元素選擇不同測(cè)量能段,確定不同測(cè)量條件。各組測(cè)量條件中電壓固定,通過(guò)調(diào)節(jié)管電流將測(cè)量死時(shí)間控制在30%以?xún)?nèi)。具體測(cè)量條件見(jiàn)表1。
 
表1 各元素分組及各組測(cè)量條件
Tab. 1 Group list for each element and measurement condition for each group 

Measuring energy levels Element Tube voltage Tube current Measure time/s
Low Cr 15 100~350 100
Mid As,Pb,Hg 30 100~200 100
High Cd 70 50~120 100

1.3 試驗(yàn)方法
1.3.1 樣片的制備
        將樣品粒度研磨至不大于74μm的分析試樣,稱(chēng)取分析試樣約10g,加入硼酸墊底,于壓片機(jī)上以500MPa壓力條件下壓制30s,壓制成粉末樣片。用洗耳球吹去表面可能存在的顆粒物質(zhì)。制備樣片厚度應(yīng)不少于3mm。樣片表面需平整,無(wú)裂紋、無(wú)粉末脫落等缺陷。

1.3.2 試樣分析
       將制備的粉末壓片置于單波長(zhǎng)激發(fā)能量色散X射線(xiàn)熒光光譜儀中獲取熒光強(qiáng)度信號(hào),采用無(wú)標(biāo)樣全譜擬合-基本參數(shù)法進(jìn)行無(wú)標(biāo)定量分析,計(jì)算得出分析試樣中元素含量。分析試樣進(jìn)行兩次平行測(cè)定取其平均值。



2.結(jié)果與討論
2.1 無(wú)標(biāo)樣全譜擬合算法
        基本參數(shù)法分為兩類(lèi),一是通過(guò)對(duì)已知元素和含量的標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì),輸入標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)的元素和含量經(jīng)過(guò)一系列計(jì)算擬合,確定基本參數(shù)算法;二是對(duì)未知樣品定量分析。采用最小二乘擬合算法對(duì)未知樣品實(shí)測(cè)譜擬合全譜[9]。最小二乘法是從誤差擬合的角度對(duì)回歸模型進(jìn)行參數(shù)估計(jì)。將樣品實(shí)際測(cè)量譜線(xiàn)分解為樣品中各個(gè)單元素在相同樣品基體情況下,樣品中各個(gè)單元素相應(yīng)含量下的理論譜線(xiàn)的疊加。因?qū)嶋H測(cè)量譜線(xiàn)測(cè)量結(jié)束后為固定值,如果假定元素初始含量,用假定含量解出該含量的理論譜線(xiàn),用測(cè)量譜線(xiàn)對(duì)單元素理論譜線(xiàn)進(jìn)行全譜匹配,匹配結(jié)果為一個(gè)新的含量,不斷重復(fù)全譜匹配過(guò)程,直到元素含量收斂為樣品中元素的實(shí)際含量。本文選擇基于基本參數(shù)法(FP)的全譜擬合無(wú)標(biāo)樣定量算法進(jìn)行分析。

        含鐵物料元素組成復(fù)雜,其基體元素成分變化會(huì)直接影響待測(cè)元素特征X射線(xiàn)強(qiáng)度的測(cè)量。低鐵含量樣品(為鐵含量15%以下的含鎳物料)鉻元素檢測(cè)情況表明,對(duì)于與含鐵物料基體(一般鐵含量在40%以上)相差較大的樣品不宜直接利用含鐵物料的檢測(cè)條件進(jìn)行檢測(cè),說(shuō)明過(guò)大的基體差異會(huì)導(dǎo)致結(jié)果的明顯偏差。利用無(wú)標(biāo)樣全譜擬合算法建立相應(yīng)基體樣品的結(jié)果校正曲線(xiàn),不改變檢測(cè)條件,可以消除明顯的基體差異導(dǎo)致的結(jié)果偏差,保障檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確。選取含有不同含量的各有害元素的含鐵物料,利用基于基本參數(shù)法的無(wú)標(biāo)樣全譜擬合算法進(jìn)行分析,其檢測(cè)結(jié)果與真值的擬合情況見(jiàn)表2。由表2可知,其R2均不小于0.9990。

 
表2 各元素基本參數(shù)法直接測(cè)定結(jié)果與真值的擬合情況
Tab.2 Fitting of Direct Measurement Results of Basic Parameters of Each Element with True Values
Element Number of samples Content range R2
Cd 11 0.00082-0.112 0.9991
As 15 0.0024-0.668 0.9990
Pb 12 0.0073-0.795 0.9993
Hg 4 0.0014-0.0089 0.9991
Cr(High iron content samples) 10 0.015-1.84 0.9999
Cr(Low iron content samples) 7 0.060-0.92 0.9991
 
 
2.2 背景及譜線(xiàn)權(quán)重優(yōu)化
        含鐵物料檢測(cè)中,背景來(lái)源主要包括入射X射線(xiàn)的康普頓散射和瑞利散射、探測(cè)器的康普頓散射逃逸效應(yīng)、探測(cè)器的不完全電荷收集效應(yīng)、光電子和俄歇電子逃逸效應(yīng)等。因此,在采用基本參數(shù)法計(jì)算過(guò)程中需要通過(guò)扣背景來(lái)消除或降低背景對(duì)元素峰擬合的影響,但扣背景不足或過(guò)多均會(huì)影響元素檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性。對(duì)樣品號(hào)為Fe-1的含鐵物料譜圖進(jìn)行背景優(yōu)化,針對(duì)含鐵物料的復(fù)雜基體復(fù)雜背景問(wèn)題,為能夠準(zhǔn)確提取微量元素信號(hào),建立了分段式多參數(shù)背景補(bǔ)償Snip算法。如圖1為Fe-1含鐵物料背景優(yōu)化譜圖。圖中下曲線(xiàn)為掃描Fe-1含鐵物料原始譜圖,上曲線(xiàn)為優(yōu)化后譜圖。經(jīng)優(yōu)化后的譜圖,可提取出低譜峰信號(hào)強(qiáng)度。

圖1  Fe-1樣品背景優(yōu)化譜圖
Fig.1 Optimization spectrum of Fe-1 sample background

2.3 譜線(xiàn)選擇及重疊干擾校正
        選擇待測(cè)元素特征譜線(xiàn)時(shí)應(yīng)避免基體中共存元素的譜線(xiàn)干擾、和峰干擾、靶材的特征譜線(xiàn)及其康普頓譜逃逸峰干擾。光譜干擾可通過(guò)選擇適當(dāng)?shù)姆治鼍€(xiàn)和采用干擾校正系數(shù)來(lái)解決。表3中給出了含鐵物料中砷、鉛、汞、鉻、鎘元素檢測(cè)推薦譜線(xiàn)和干擾修正情況。

表3 含鐵物料中微量元素的推薦分析線(xiàn)及干擾情況
Tab.3 Recommended Analysis Lines and Interference Conditions for Trace Elements in Ferrous Materials
 
Element  Recommended spectral lines Participate in basic correction elements Spectral overlapping interference element lines and typical interference situations  
Interference correction method
As Kα -line Fe、 Ca、Si、Al、Mn、K、O The Lα -line of Pb element overlaps with the    Kα -line of As element Using theLβ -line of Pb element to calculate the content of Pb element, and then re analyzing the Kα -line of As element in overlapping peaks
Pb Lβ -line Fe、 Ca、Si、Al、Mn、K、O The double peak of the Kα -line of Fe element overlaps with the Lβ -line of Pb element Algorithm of using full spectrum fitting matrix parameters method
Hg Lα -line Fe、 Ca、Si、Al、Mn、K、O The overlapping peaks have no interference, but the Lα -line of Hg element is easily affected by the Kα -line and Kβ -line of Zn element, resulting in background interference The content of Zn element greater than 1% affects the determination of low content Hg element
Cr Kα -line or Kβ -line Fe、 Ca、Si、Al、Mn、K、O The Kα -line of Cr element overlaps with the escape peak of Fe element's Kβ -line and the Kβ -line of V element, while the Kβ -line of Cr element overlaps with the Kβ -line of Mn element By calculating the content of Fe, V, and Mn elements, Cr can be further resolved in overlapping peaks
Cd Kα -line Fe、 Ca、Si、Al、Mn、K、O The position where the Lβ1 - line of Pb element accumulates and doubles, and the position where the Lα -line of Pb element accumulates and doubles, will have a combined peak Deducting the effect of peak concentration by calculating the Pb element content
 
2.4 方法檢測(cè)下限及檢出限
        選擇SiO2作為空白樣,利用單波長(zhǎng)激發(fā)能量色散X射線(xiàn)熒光光譜法對(duì)其重復(fù)測(cè)定11次,以3.14倍測(cè)定值的標(biāo)準(zhǔn)偏差(s)計(jì)算檢出限(3.14s)[10]。方法的檢測(cè)下限可定義為在特定基體某一可信度內(nèi)對(duì)分析物能進(jìn)行可靠確認(rèn)和定量的最低濃度值,通常取3倍檢出限,結(jié)果保留兩位有效數(shù)字,見(jiàn)表4。
 
表4 方法檢測(cè)下限及檢出限
Tab.4  Method detection lower limit and detection limit

Sample number Determination of elements
Hg As Pb Cd Cr
1 0.00041 0.0016 -0.0012 -0.00015 -0.013
2 0.00037 0.0015 -0.00090 -0.00024 -0.013
3 0.00013 0.0016 -0.0010 -0.00024 -0.014
4 0.00026 0.0015 -0.0011 -0.00014 -0.013
5 0.00032 0.0015 -0.0013 -0.00023 -0.014
6 0.00015 0.0016 -0.00098 -0.00039 -0.013
7 0.00018 0.0014 -0.0010 -0.00023 -0.013
8 0.00015 0.0013 -0.0010 -0.00068 -0.013
9 0.00014 0.0013 -0.00093 -0.00021 -0.013
10 0.00039 0.0016 -0.0010 -0.00049 -0.013
11 0.00036 0.0013 -0.0010 -0.00021 -0.012
S 0.00011 0.00011 0.00012 0.00017 0.00035
Detection limit 0.00035 0.00036 0.00037 0.00052 0.0011
Method detection lower limit 0.0011 0.0011 0.0011 0.0016 0.0033







2.5 方法精密度
        選取含有有害元素的含鐵物料樣片,進(jìn)行精密度試驗(yàn)。分析結(jié)果見(jiàn)表5。由表5可知,各元素RSD在3.19%~9.00%范圍內(nèi),RSD均不大于10%,精密度良好。
 
表5 精密度試
                                                                                                Tab.5 Precision test(n=7)                                                                                           /%
Sample As Pb Cd Cr Hg
average value RSD average value RSD average value RSD average value RSD average value RSD
Fe-1 0.048 4.9 0.76 4.8 0.00092 8.7 0.056 4.8 / /
Fe-2 0.0042 7.3 0.10 4.2 0.0038 7.0 0.018 3.5    
Hg-3 0.022 4.0 0.21 3.2 / / 0.032 4.7 0.0037 9.0
Hg-4 0.0085 3.4 0.18 4.9 / / 0.0098 5.6 0.0083 4.5
 
2.6 方法正確度
        選取各元素不同水平含鐵物料樣品,按本試驗(yàn)方法進(jìn)行測(cè)定,并與ICP-MS法、直接測(cè)汞儀法進(jìn)行結(jié)果比對(duì),檢測(cè)結(jié)果見(jiàn)表6~10。由檢測(cè)結(jié)果可知,砷元素測(cè)定中Fe-2、GSB03-2854-2012及S-4含鐵物料,鉛元素測(cè)定中YSBC28786-2015含鐵物料檢測(cè)結(jié)果與其他方法或標(biāo)示值偏差較大,主要原因?yàn)榻咏浞椒z測(cè)下限。經(jīng)正確度驗(yàn)證,該方法滿(mǎn)足分析要求,可開(kāi)展快速分析檢測(cè)。
    
表6 砷元素檢測(cè)比對(duì)結(jié)果
                                                                                Tab.6 Comparison Results of Arsenic Element Detection
                                                             /%
Samples This method ICP-MS measured  value
Fe-1 0.048 0.056
Fe-2 0.0042 0.0024
YSBC14722-98 0.11 0.10
YSBC28786-2015 0.0096 0.0095
GSB03-2854-2012 0.0064 0.0044
GSB03-2855-2012 0.22 0.22
GSB03-2856-2012 0.047 0.051
YSBC28785-2015 0.013 0.011
GSB03-1805-2005 0.096 0.11
S-4 0.0019 0.0008
S-1 0.094 0.097
S-2 0.014 0.010
S-3 0.093 0.072
GSB03-2857-2012 0.33 0.29
Fe-3 0.64 0.67
 

表7 鉛元素檢測(cè)比對(duì)結(jié)果
                                                                           Tab.7 Comparison Results of Lead Element Detection
                                                                       /%
Samples This method ICP-MS measured  value
Fe-2 0.10 0.11
Fe-1 0.73 0.79
YSBC14722-98 0.099 0.120
YSBC28786-2015 0.0047 0.0073
GSB03-2854-2012 0.027 0.035
GSB03-2855-2012 0.16 0.18
GSB03-2856-2012 0.031 0.034
YSBC28785-2015 0.012 0.020
GSB03-1805-2005 0.085 0.11
S-1 0.44 0.47
S-3 0.18 0.20
GSB03-2857-2012 0.18 0.19
 
表8 汞元素檢測(cè)比對(duì)結(jié)果
                                                                      Tab.8 Comparison Results of Mercury Element Detection                                                                      /%
Samples This method Direct mercury meter method
Hg-1 0.0012 0.0014
Hg-2 0.0025 0.0030
Hg-3 0.0039 0.0045
Hg-4 0.0081 0.0089
 

表9 鉻元素檢測(cè)比對(duì)結(jié)果
                                                                  Tab.9 Comparison Results of Chromium Element Detection                                                                      /%
High speed iron containing materials Low iron element iron containing materials
Samples This method ICP-MS measured value Samples This method ICP-MS measured value
ISO306 0.015 0.017 GBW07146 0.13 0.12
ISO316 0.069 0.080 GBW07147 0.13 0.13
ISO315 0.031 0.036 GBW07148 0.073 0.060
ISO327 0.014 0.015 ZBK413 0.80 0.76
ZBK459 0.055 0.047 ZBK414 0.93 0.90
ZBK460 0.037 0.037 ZBK415 0.82 0.83
ZBK461 0.033 0.027 ZBK416 0.76 0.76
ZBK418 1.31 1.38 ZBK417 0.36 0.37
ZBK412 1.75 1.84 / / /
GBW07149 0.055 0.046 / / /
 

表10 鎘元素檢測(cè)比對(duì)結(jié)果
                                                                  Tab.10 Comparison Results of Cadmium Element Detection
                                                                      /%
Sample This method ICP-MS measured value
Fe-1 0.00083 0.00071
Fe-2 0.0036 0.0031
Cd-1 0.0034 0.0035
Cd-2 0.0048 0.0045
Cd-3 0.0063 0.0070
Cd-4 0.012 0.013
S-1 0.11 0.096
S-2 0.0014 0.0012
S-3 0.011 0.011
ZBK410 0.050 0.047
ZBK417 0.029 0.028
 
 

3.結(jié) 論

        本文采用壓片制樣-單波長(zhǎng)激發(fā)能量色散X射線(xiàn)熒光光譜法測(cè)定含鐵物料中多種有害元素,利用基于基本參數(shù)法的無(wú)標(biāo)樣全譜擬合算法對(duì)目標(biāo)元素的基體效應(yīng)進(jìn)行校正并進(jìn)行檢測(cè)分析。通過(guò)正確度驗(yàn)證可知,方法滿(mǎn)足快速分析要求。


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